特性：
应用范围广
覆盖从简单低端芯片到复杂产品中所有的性能测试需求:
DC,数字，模拟和射频。
灵活度和可扩展性
在任意测试头中支持任意板卡的组合。
V93000 Smart Scale
贯穿整个平台的兼容性
通过使用相同的硬件结构，相同的测试程序，相同的测试专板和相同的对接方式，确保新的功能能随时的添加。
随时得到功能满足
通过可浮动许可证在一台和多台测试机之间共享，来确保仅在需要时开启额外的功能，使得投资优化。
投资保障
通过不断升级平台，复用工程知识以及延长测试机的生命周期。
专注于单一平台的策略，爱德万V93000测试系统不仅在工程领域，还在量产、IDM、晶圆代工厂、设计公司以及OSAT有广泛的用户群。
解决方案：
多功能数字方案:
V93000 多能的数字方案覆盖所有数字应用需求，包括从晶圆测试到性能测试，从消费类芯片到高端芯片，所有的一切都通过在单一平台上实现，使得客户能最大受益于其多功能性。
无线/射频方案:
V93000无线/射频方案提供快的测试效率和小的测试成本，可提供高达96个端口，高效的8site同测。
消费类SoC方案:
V93000消费类SOC方案是低成本测试方案，能够克服新一代消费类芯片的混合信号测试所带来的挑战。
可扩展平台的选择
新的V93000 SmartScale系列产品提供芯片测试覆盖范围，提供全系列的机台系类（从最小的A-系列到最大的L-系列），让您的投入得到大的回报。
新板卡，新功能
新的V93000 Smart Scale 系列产品推出的新功能，有效提高测试覆盖率，改进产品上市的速度，并提供优越的测试回报:
设立测试行业标准
Smart Test, Smart ATE, Smart Scale！爱德万V93000 Smart Scale 系列产品以新的板卡，新的功能正在设立测试新标准。没有最好，只有更好！
本文出自电子测试测量专家盛铂科技,http://www.samplesci.com
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